芯片上的变化

芯片上的变化(OCV)是指单个芯片上的晶体管在各种因素(如工艺、电压和温度)中表现出的芯片内变化。

由于制造工艺的不完善，芯片上相邻的两个晶体管的通道长度可能会有差异。电压差的产生是因为从电压轨到标准电池的电压引脚的IR下降不同。

温差可能是由于芯片特定区域的高切换活性，导致局部热点的形成，从而产生更高的温度。

芯片上的变化在SoC的设计中起着关键的作用。ocv通常要求设计人员遵循一种悲观的方法，特别是在其物理实现中。许多研究致力于减轻ocv对芯片功能和健壮性的影响。