2018年4月15日，anysilicon
对于专用集成电路或集成电路，有其存储的推荐环境条件，使其能够在适当的功能。然而，众所周知，存储可能并不总是接近推荐的标准。这就是高温存储寿命(HTSL)测试发挥作用的地方
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高加速压力测试包括湿度和温度对集成电路或ASIC的影响。在极端的湿度和温度条件下测试专用集成电路的封装。通过这些测试的设备将能够承受正常的严酷的温度
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除了用于测量可能影响IC/ASIC器件的静电放电(ESD)的人体模型(HBM)外，还必须测试来自带电器件模型(CDM)的损坏。虽然表面上类似于HBM，但CDM是不同的
阅读更多2018年4月15日，anysilicon
在建造集成电路(ICs)或asic时，需要关注的一个领域是如何保护它们不受外部电源的伤害。虽然大多数系统都面临着电源过载，但来自人体的静电放电(ESD)可能会造成相当大的损害。帮助测试
阅读更多2018年3月31日，anysilicon
许多集成电路设计者不重视集成电路的质量，因此在芯片达到大容量之前付出了高昂的价格和延迟。经验丰富的集成电路设计师的思维模式是通过集成电路设计过程的所有阶段来考虑集成电路的质量(和生产测试)。今天，比以往任何时候都更加，重新绦化
阅读更多2016年2月11日，anysilicon
随着ASIC设计朝着maskset创建和tapeout的方向发展，设计变更的成本呈指数级增长。在设计初期，修改ASIC设计甚至重做一些芯片结构是更容易和更便宜的。然而，这是更加困难和昂贵的
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